DIN EN IEC 60749-28 / VDE 0884-749-28 Entwurf Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) – Charged Device Model (CDM) – Device Level (IEC 60749-28:2022)
| Format: | eBook |
|---|---|
| Language: | German |
| Published: |
Berlin
VDE Verlag
2024
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| Edition: | April 2024 |
| Online Access: | |
| Collection: | VDE NormenBibliothek - Collection details see MPG.ReNa |
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